致冷控溫實(shí)驗儀

溫度傳感器測試及半導體致冷控溫實(shí)驗儀     型號；XRS-FD-TM

對溫度傳感器性能的了解及測試是大學(xué)物理實(shí)驗的一項bibei內容，但大多數實(shí)驗儀器只具備做環(huán)境溫度以上的實(shí)驗， HAD-FD-TM溫度傳感器測試及半導體致冷控溫實(shí)驗儀具備了半導體致冷功能，使之能做環(huán)境溫度以下的實(shí)驗。本儀器主要測試溫度傳感器AD590的性能(可根據要求增加多種溫度傳感器的測試)及了解半導體致冷堆的性能。

　　儀器主要由以下部分組成：

　　1．TCF708控溫儀

　　2．四位半數字電壓表（0-2V）

　　3．加熱井和致冷井裝置

　　4．AD590實(shí)驗系統

　　應用該儀器可以完成以下實(shí)驗：

　　1．學(xué)習半導體制冷的原理。

　　2．測量電流型溫度傳感器AD590的特性。

　　3．學(xué)習智能溫度調節儀控溫的原理及調節方法。

　　儀器主要技術(shù)參數：

　　1．加熱范圍 環(huán)境溫度－120℃

　　2．致冷范圍 環(huán)境溫度－低于環(huán)境溫度30℃

　　3．控溫精度 0.1℃

　　4．測溫精度 ±3%